本レポートは、SDGs(持続可能な開発目標)の目標(ゴール)である『』に含まれる具体目標(ターゲット)の『』(以下、「光学的手段による材料の調査の特殊な応用技術」と略します)に関して、出願件数推移、出願企業等の情報を提供する特許分析レポートです。
テーマコード「光学的手段による材料の調査の特殊な応用技術」の直近(2023-01-01〜2023-03-31)の特許出願件数は 178件 です。前年同期間(2022-01-01〜2022-03-31)の特許出願件数 178件 に比べて +0件(0.0%) と僅かに減少しています。
出願件数が最も多い年は 2018年 の863件、最も少ない年は 2022年 の689件です。
過去5年間の出願件数(2018〜2023年、計4,314件)の平均値は719件、中央値は784件です。変動係数(標準偏差/平均値)は0.25であり、年ごとの出願件数のばらつきは小さいです。
指標 | 値 |
---|---|
平均値 | 719 件 |
標準偏差 | 182 |
変動係数 | 0.25 |
年 | 件数 | 前年比 |
---|---|---|
2022 年 | 689 件 | -10.98 % |
2021 年 | 774 件 | -2.40 % |
2020 年 | 793 件 | -8.00 % |
光学的手段による材料の調査の特殊な応用技術[2G051]の過去10年間(2014-01-01〜2024-11-30)の特許検索結果[特許データベース 日本]に対する最新の特許分析情報(IPランドスケープ、パテントマップ・特許マップ)を提供しています。競合各社の特許出願動向、技術動向を比較したり、重要特許を調べることができます。
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本レポートは、光学的手段による材料の調査の特殊な応用技術の特許件数推移および、同業・競合企業との特許件数比較、光学的手段による材料の調査の特殊な応用技術の上位共願人(共同研究相手、アライアンス先)、および重要特許といった光学的手段による材料の調査の特殊な応用技術の知財戦略・知財経営を理解するための基礎的な情報を含んでおり、 IPランドスケープ、特許調査・特許分析、知財ビジネス評価書の作成、M&A候補先の選定、事業提携先の選定など様々な知財業務で自由にご活用いただくことができます。
パテント・インテグレーション株式会社 CEO/弁理士
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近年、「IPランドスケープ(IPL)」という考え方が注目されてきています。
IPランドスケープは、特許情報に限定されず、非特許情報(論文、ニュースリリース、株式情報、マーケット情報)などのビジネス情報を含め統合・分析し、経営戦略・事業戦略 策定に知財情報分析を通じて知財経営を実現していく一連の活動を示します。 知財情報を活用したオープン&クローズ戦略の立案、M&A候補先の選定、事業提携先の探索、知財戦略 策定なども含まれる総合的な考え方で、近年、注目されつつあります。
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光学的手段による材料の調査の特殊な応用技術 の過去 20年間 の特許出願件数推移(日本)を以下に示します。
特許件数推移は、特許分析において最も基本的な分析指標です。特許件数推移を確認することで、企業・技術ごとの技術開発、研究開発への注力状況を確認できます。なお、特許は出願から公開までに一年半のタイムラグがあるため、一年半より直近の状況については分析できない点に注意する必要があります。
本レポートでは、企業・技術ごとの特許件数推移のみしか確認できませんが、「パテント・インテグレーション」では、他のキーワードや特許分類と掛け合わせ、技術分野ごとに競合他社との特許出願件数を比較したり短時間で調査を行うことができます。
佐藤総合特許事務所 代表弁理士
佐藤 寿のコメント
パテント・ランドスケープは、技術キーワードごとの特許出願の分布(出願注力領域)を視覚的に可視化したものです。ヒートマップ等高線で示される山や島は、特許出願のクラスタ(塊)を示しており、ヒートマップの赤い領域は、キーワードに関連する多数の特許出願がなされていることを示します。
パテント・ランドスケープにより、光学的手段による材料の調査の特殊な応用技術においてどのような特許出願が行われ、技術的なポジションが確立されようとしているか直感的に理解できます。 出願年のチェックボックスにチェックしフィルタすることにより、過去の出願傾向(どういった技術領域に注力してきたのか)の変遷を確認できます。
出願人・権利者のチェックボックスにチェックしフィルタすることにより、各出願人ごとにどのような技術領域で出願が行われ、提携・アライアンスが行われているのか、視覚的に把握できます。 特許分析、IPランドスケープのヒントとしてご利用ください。
また、このように特許データを視覚的に可視化することにより、経営戦略や事業戦略の策定に際して、自社および競合企業がどのような技術的ポジションに位置しているか、経営陣、事業責任者に対し説得力をもって示すことができます。
「パテント・インテグレーション」では、パテント・ランドスケープ画面の任意の位置をクリックすることで、具体的な特許出願内容を確認できます。 また、他のキーワードや特許分類と掛け合わせ、技術分野ごと出願人ごとのポジションを短時間で確認できます。 IPランドスケープにおいて各社の知財戦略の仮説検討のヒントにご活用ください。 リーズナブルな価格設定と初心者でも扱いやすい簡単なユーザインタフェースを備えており、ワンランク上の知財活動にご活用ください。
佐藤総合特許事務所 代表弁理士
佐藤 寿のコメント
光学的手段による材料の調査の特殊な応用技術 の特許出願によく使われている「単語(特徴語)」を以下に示します。 重要度が高い特徴語ほど多くの特許に使われています。
本特許分析レポートは、以下の特許データベースを用いて、以下の検索式・分析期間により検索された「7,633件」の特許検索集合を対象に作成されたものです。 特許分析結果、パテントマップ、パテント・ランドスケープなどの特許情報は、IPランドスケープを含め特許調査・分析・知財戦略業務に自由にご利用いただけます。
技術テーマ「光学的手段による材料の調査の特殊な応用技術」における上位出願人の特許情報を以下に示します。各企業の特許件数を比較することで、過去および現在の各社の技術テーマにおける研究開発状況や、技術テーマにおける各社の位置付けを確認できます。
佐藤総合特許事務所 代表弁理士
佐藤 寿のコメント
各企業の出願件数を比較すると、直近3年間(2022〜2024年)において、出願件数が最も多いのは キヤノン株式会社 の67件、次に多いのは オムロン株式会社 の25件です。
各企業の出願件数を比較すると、対象期間(2014〜2024年)において、出願件数が最も多いのは キヤノン株式会社 の275件、次に多いのは オムロン株式会社 の143件です。
佐藤総合特許事務所 代表弁理士
佐藤 寿のコメント
同業11社 の 過去20年間の日本特許の出願件数推移を示すパテントマップを以下に示します。
技術テーマ「光学的手段による材料の調査の特殊な応用技術」における上位出願人の特許情報を以下に示します。各企業の特許件数を比較することで、過去および現在の各社の技術テーマにおける研究開発状況や、技術テーマにおける各社の位置付けを確認できます。
佐藤総合特許事務所 代表弁理士
佐藤 寿のコメント
上位出願人のうち、直近3年間(2022〜2024年)において、出願件数が最も多いのは 株式会社東芝 の22件、次に多いのは 株式会社日立製作所 の6件です。
上位出願人のうち、対象期間(2014〜2024年)において、出願件数が最も多いのは 大日本印刷株式会社 の116件、次に多いのは 株式会社東芝 の108件です。
光学的手段による材料の調査の特殊な応用技術 の過去20年間の 上位出願人7社 の日本特許の出願件数ランキングを以下に示します。
佐藤総合特許事務所 代表弁理士
佐藤 寿のコメント
光学的手段による材料の調査の特殊な応用技術 の過去20年間の 上位出願人7社 の日本特許の出願件数推移を示すパテントマップを以下に示します。
株式会社東芝 の分析対象期間(2014〜2024年)の出願件数は 108件 です。
過去5年間の出願件数(2018〜2023年、計65件)の平均値は10.8件、中央値は9.5件です。変動係数(標準偏差/平均値)は0.28であり、年ごとの出願件数のばらつきは小さいです。
直近3年間(2020〜2023年)の出願件数は減少傾向です。 出願件数が最も多い年は 2021年 の16件、最も少ない年は 2017年 の7件です。
指標 | 値 |
---|---|
平均値 | 10.8 件 |
標準偏差 | 3.1 |
変動係数 | 0.28 |
年 | 件数 | 前年比 |
---|---|---|
2022 年 | 14 件 | -12.50 % |
2021 年 | 16 件 | +77.8 % |
2020 年 | 9 件 | +12.50 % |
株式会社日立製作所 の分析対象期間(2014〜2024年)の出願件数は 35件 です。
過去5年間の出願件数(2018〜2023年、計14件)の平均値は2.3件、中央値は2.0件です。変動係数(標準偏差/平均値)は0.5であり、年ごとの出願件数のばらつきは大きいです。
直近3年間(2020〜2023年)の出願件数は増加傾向です。 出願件数が最も多い年は 2016年 の7件、最も少ない年は 2020年 の1件です。
指標 | 値 |
---|---|
平均値 | 2.3 件 |
標準偏差 | 1.2 |
変動係数 | 0.5 |
年 | 件数 | 前年比 |
---|---|---|
2022 年 | 4 件 | +100 % |
2021 年 | 2 件 | +100 % |
2020 年 | 1 件 | -75.0 % |
富士通株式会社 の分析対象期間(2014〜2024年)の出願件数は 46件 です。
過去5年間の出願件数(2018〜2023年、計19件)の平均値は3.2件、中央値は3.0件です。変動係数(標準偏差/平均値)は0.7であり、年ごとの出願件数のばらつきは比較的大きいです。
出願件数が最も多い年は 2016年 の15件、最も少ない年は 2022年 の1件です。
指標 | 値 |
---|---|
平均値 | 3.2 件 |
標準偏差 | 2.2 |
変動係数 | 0.7 |
年 | 件数 | 前年比 |
---|---|---|
2022 年 | 1 件 | 0 |
2021 年 | 1 件 | -80.0 % |
2020 年 | 5 件 | 0 |
株式会社日立ハイテク の分析対象期間(2014〜2024年)の出願件数は 42件 です。
過去5年間の出願件数(2018〜2023年、計14件)の平均値は2.3件、中央値は2.0件です。変動係数(標準偏差/平均値)は0.6であり、年ごとの出願件数のばらつきは大きいです。
出願件数が最も多い年は 2014年 の22件、最も少ない年は 2017年 の0件です。
指標 | 値 |
---|---|
平均値 | 2.3 件 |
標準偏差 | 1.4 |
変動係数 | 0.6 |
年 | 件数 | 前年比 |
---|---|---|
2022 年 | 2 件 | -33.3 % |
2021 年 | 3 件 | +200 % |
2020 年 | 1 件 | 0 |
株式会社ニコン の分析対象期間(2014〜2024年)の出願件数は 13件 です。
過去5年間の出願件数(2018〜2023年、計6件)の平均値は1.0件、中央値は1.0件です。変動係数(標準偏差/平均値)は1.0であり、年ごとの出願件数のばらつきは比較的大きいです。
直近3年間(2020〜2023年)の出願件数は減少傾向です。 出願件数が最も多い年は 2017年 の4件、最も少ない年は 2021年 の0件です。
指標 | 値 |
---|---|
平均値 | 1.0 件 |
標準偏差 | 1.0 |
変動係数 | 1.0 |
年 | 件数 | 前年比 |
---|---|---|
2022 年 | 1 件 | - |
2021 年 | 0 件 | -100 % |
2020 年 | 1 件 | -66.7 % |
光学的手段による材料の調査の特殊な応用技術 の日本特許のうち、第三者から無効審判請求や異議申立が提起された特許や、特許審査過程において審査官により引用された重要性が高い特許を以下に示します。
重要特許を確認することで、光学的手段による材料の調査の特殊な応用技術が置かれている事業競争環境(熾烈な競争環境か、寡占市場かなど)の知見を得られます。 一般に、無効審判請求が多い企業は知財紛争の多い事業環境で事業を展開していると理解できます。
さらに詳しい情報を調査したい場合は、「パテント・インテグレーション」を利用することで、各企業の被引用、被無効審判特許を検索しダウンロードできます。 他のキーワードや特許分類と掛け合わせることで複数の競合企業を含めた特許集合から重要特許を短時間で抽出できます。重要特許調査へのご活用をご検討ください。
佐藤総合特許事務所 代表弁理士
佐藤 寿のコメント
直近3年間(2021-12-01〜2024-11-30)に、第三者から 異議申立 された特許は 7件 ありました。平均異議申立数は 1.0回 です。 最も最近 異議申立 された特許は 特許7393313号「欠陥分類装置、欠陥分類方法及びプログラム」(異議申立日 2024-06-04)、次は 特許7312448号「目視支援装置」(異議申立日 2023-12-26)です。
- | 特許番号 | 発明の名称 | 異議申立日 |
---|---|---|---|
1 | 特許7393313 | 欠陥分類装置、欠陥分類方法及びプログラム | 2024-06-04 |
2 | 特許7312448 | 目視支援装置 | 2023-12-26 |
3 | 特許7217570 | 情報処理システム及びプログラム、情報処理方法、サーバ | 2023-08-03 |
4 | 特許7156564 | 画像検査装置、画像検査システム、画像検査方法および画像検査プログラム | 2023-04-19 |
5 | 特許7065755 | 物品検査装置 | 2022-10-12 |
6 | 特許7029343 | 異物検出装置および異物検出方法 | 2022-09-05 |
7 | 特許6940215 | 検査装置及び検査装置の識別手段の学習方法 | 2022-02-14 |
直近3年間(2021-12-01〜2024-11-30)に、第三者から 情報提供 された特許は 58件 ありました。平均情報提供数は 1.3回 です。 最も最近 情報提供 された特許は 特開2022-108063号「粒状体検査装置」(情報提供日 2024-10-30)、次は 特許7595547号「検査装置」(情報提供日 2024-10-10)です。
- | 特許番号 | 発明の名称 | 情報提供日 |
---|---|---|---|
1 | 特開2022-108063 | 粒状体検査装置 | 2024-10-30 |
2 | 特許7595547 | 検査装置 | 2024-10-10 |
3 | 特開2022-111395 | 物品検査装置 | 2024-07-31 |
4 | 特開2022-073649 | 判定装置、判定方法、プログラム及び回収装置 | 2024-07-30 |
5 | 特開2024-063953 | 識別装置、選別装置、及び識別方法 | 2024-07-29 |
6 | 特開2021-078082 | 情報処理装置及びその制御方法 | 2024-07-17 |
7 | 特開2023-184321 | 段ボールシートの欠陥検出方法 | 2024-07-16 |
8 | 特許7601327 | 検査装置 | 2024-04-12 |
9 | 特表2022-517067 | 非円形瞳を有する検査システム | 2024-04-08 |
10 | 特開2022-129667 | 莢果選別システム及び莢果選別装置 | 2024-03-27 |
11 | 特許7493443 | 色彩選別機 | 2024-03-19 |
12 | 特開2023-017169 | フィルム検査装置、フィルム検査方法及びプログラム | 2024-01-31 |
13 | 特開2023-137057 | 欠陥予測モデルの生成方法、びん外観検査方法、およびびん外観検査装置 | 2024-01-31 |
14 | 特開2022-151122 | 検査選別装置、検査装置及び選別装置 | 2024-01-29 |
15 | 特許7602219 | 色調検査装置 | 2024-01-29 |
16 | 特開2021-148719 | 検査システム、学習装置、学習プログラム、学習方法、検査装置、検査プログラム、検査方法 | 2023-12-14 |
17 | 特開2022-099480 | 卵分類システム | 2023-11-27 |
18 | 特開2023-143024 | 食品についての検査システム及び検査方法 | 2023-11-15 |
19 | 特開2023-018796 | 物品検査装置 | 2023-11-15 |
20 | 特開2021-187869 | ポリエステルフィルム、ポリエステルフィルムの製造方法、ポリエステルペレット、およびポリエステルペレットの製造方法 | 2023-11-09 |
直近10年間(2014-12-01〜2024-11-30)に出願された特許のうち、第三者により 情報提供 が1回以上なされた特許は 122件 ありました。平均情報提供数は 1.3回 です。 情報提供数が多い特許は 特許6884936号「穀粒品質測定器」(5回)、次に多い特許は 特開2022-108063号「粒状体検査装置」(4回)です。
- | 特許番号 | 発明の名称 | # |
---|---|---|---|
1 | 特許6884936 | 穀粒品質測定器 | 5 回 |
2 | 特開2022-108063 | 粒状体検査装置 | 4 回 |
3 | 特許7170400 | 検査装置、検査方法、錠剤印刷装置および錠剤印刷方法 | 4 回 |
4 | 特許6940215 | 検査装置及び検査装置の識別手段の学習方法 | 4 回 |
5 | 特許7026309 | 光学式外観検査装置、及びこれを用いた光学式外観検査システム | 3 回 |
直近3年間(2021-12-01〜2024-11-30)に、第三者から 閲覧請求 された特許は 49件 ありました。平均閲覧請求数は 1.2回 です。 最も最近 閲覧請求 された特許は 特開2024-063953号「識別装置、選別装置、及び識別方法」(閲覧請求日 2024-08-28)、次は 特開2022-073649号「判定装置、判定方法、プログラム及び回収装置」(閲覧請求日 2024-08-26)です。
- | 特許番号 | 発明の名称 | 閲覧請求日 |
---|---|---|---|
1 | 特開2024-063953 | 識別装置、選別装置、及び識別方法 | 2024-08-28 |
2 | 特開2022-073649 | 判定装置、判定方法、プログラム及び回収装置 | 2024-08-26 |
3 | 特開2023-184321 | 段ボールシートの欠陥検出方法 | 2024-08-19 |
4 | 特開2021-078082 | 情報処理装置及びその制御方法 | 2024-07-23 |
5 | 特許7393313 | 欠陥分類装置、欠陥分類方法及びプログラム | 2024-05-20 |
6 | 特開2023-137057 | 欠陥予測モデルの生成方法、びん外観検査方法、およびびん外観検査装置 | 2024-03-08 |
7 | 特開2023-017169 | フィルム検査装置、フィルム検査方法及びプログラム | 2024-02-22 |
8 | 特開2022-129667 | 莢果選別システム及び莢果選別装置 | 2024-02-15 |
9 | 特開2022-129668 | 莢果選別システム及び莢果選別装置 | 2024-02-15 |
10 | 特開2022-129666 | 莢果選別システム及び莢果選別装置 | 2024-02-15 |
11 | 特許5187851 | 検査装置および検査方法 | 2024-01-24 |
12 | 特開2021-148719 | 検査システム、学習装置、学習プログラム、学習方法、検査装置、検査プログラム、検査方法 | 2023-12-27 |
13 | 特開2022-099480 | 卵分類システム | 2023-11-29 |
14 | 特開2023-143024 | 食品についての検査システム及び検査方法 | 2023-11-24 |
15 | 特許7546356 | 検査装置、及び検査方法 | 2023-10-23 |
16 | 特許7365819 | 搬送装置及び画像検査装置 | 2023-08-24 |
17 | 特開2024-018963 | 欠陥を分析するための検査システム及び方法 | 2023-08-08 |
18 | 特開2022-151592 | 検査選別装置 | 2023-07-20 |
19 | 特許7531823 | 検査装置および検査方法 | 2023-06-13 |
20 | 特許7450032 | 衛生陶器の光学検査のための装置 | 2023-05-22 |
直近10年間(2014-12-01〜2024-11-30)に出願された特許のうち、第三者により 閲覧請求 が1回以上なされた特許は 110件 ありました。平均閲覧請求数は 1.2回 です。 閲覧請求数が多い特許は 特許6705433号「検知装置」(4回)、次に多い特許は 特許6884936号「穀粒品質測定器」(4回)です。
- | 特許番号 | 発明の名称 | # |
---|---|---|---|
1 | 特許6705433 | 検知装置 | 4 回 |
2 | 特許6884936 | 穀粒品質測定器 | 4 回 |
3 | 特許7170400 | 検査装置、検査方法、錠剤印刷装置および錠剤印刷方法 | 4 回 |
4 | 特許7005930 | シート検査装置及び検査システム | 3 回 |
5 | 特許6681128 | 選別装置 | 2 回 |
直近10年間(2014-12-01〜2024-11-30)に出願された特許のうち、他の特許の審査過程において1回以上 引用 された特許は 2,049件 ありました。平均被引用数は 2.8回 です。 被引用数が多い特許は 特許6263147号「浮上ロボットを用いた構造物検査装置」(41回)、次に多い特許は 特許6906897号「亀裂検出装置及び亀裂検出方法」(36回)です。
- | 特許番号 | 発明の名称 | # |
---|---|---|---|
1 | 特許6263147 | 浮上ロボットを用いた構造物検査装置 | 41 回 |
2 | 特許6906897 | 亀裂検出装置及び亀裂検出方法 | 36 回 |
3 | 特許6833452 | 巡視点検システム、情報処理装置、巡視点検制御プログラム | 35 回 |
4 | 特許6648971 | 構造物の点検装置 | 33 回 |
5 | 特開2018-005640 | 分類器生成装置、画像検査装置、及び、プログラム | 32 回 |
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佐藤総合特許事務所 代表弁理士
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