法定状態のパテントマップ


パテント・インテグレーションでは、出願人名、出願日などの書誌情報に加え、審査情報/法定状態を組み合わせたパテントマップを簡単に作成することができます。

まず、パテントマップを作成する対象検索集合の、 特許検索結果コントロールの特許分析メニューから「マップ」を選択し、 パテントマップ ウィザードを立ち上げます。

集計軸(x軸またはy軸)として、任意の 審査情報/法定状態を選択することができます。次に、「候補表示」ボタンをクリックすることにより、集計候補を一覧表示させることができます。

最後に、集計対象項目のチェックボックスをクリックして選択することにより集計対象とすることができます。

集計対象の選択が完了した後に、パテントマップウィザード一番下の「描画」ボタンをクリックします。すると、対象検索集合の審査情報/法定状態についての統計情報をグラフとして得ることができます。

一次元グラフに加えて、出願人名、発明者氏名などの書誌情報と組み合わせて二次元のグラフを作成することもできます。

例えば、発明者氏名と生存状態を組み合わせた以下のような二次元集計グラフを簡単に作成することができます。

なお、集計されたデータは、クリップボードへコピーすることにより任意の表計算ソフトで利用いただくことが可能です。詳細については、 事例1を参照ください。

特許検索方法 入門編

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